Этот стандарт описывает механические и климатические методы тестирования полупроводниковых устройств. В части, относящейся к чип-сдвигу, он устанавливает конкретные процедуры для определения прочности на сдвиг. Стандарт предоставляет подробные инструкции по подготовке образцов, выполнению тестов и интерпретации результатов. Он предназначен для использования в промышленности, связанной с производством и тестированием полупроводниковых компонентов. Включает в себя требования к оборудованию, условиям окружающей среды и параметрам измерений. Стандарт применяется для обеспечения надежности и качества полупроводниковых изделий на различных этапах их жизненного цикла. Он может использоваться как руководство для производителей, испытательных лабораторий и других заинтересованных сторон.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.