DIN EN 60749-19:2011-01
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность штампа на сдвиг (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Немецкая версия EN 60749-19:2003 + A1:2010 / Примечание: DIN EN 60749-19 (2003-10) остается действительным наряду с этим стандартом до 01 сентября 2013 г.
- Стандартный №
- DIN EN 60749-19:2011-01
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- German Institute for Standardization
- Последняя версия
- DIN EN 60749-19:2011-01
DIN EN 60749-19:2011-01 История
- 2011 DIN EN 60749-19:2011-01 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность штампа на сдвиг (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); Немецкая версия EN 60749-19:2003 + A1:2010 / Примечание: DIN EN 60749-19 (2003-10) остается действительным наряду с этим стандартом до 01 сентября 2013 г.
- 2009 DIN EN 60749-19/A1 E:2009-10 Проект документа - Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 19: Прочность штампа на сдвиг (IEC 47/2016/CDV:2009); Немецкая версия EN 60749-19:2003/FprA1:2009
- 2009 DIN EN 60749-19/A1 E:2009 Проект документа. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 47/2016/CDV:2009); Немецкая версия EN 60749-19:2003/FprA1:2009
- 2003 DIN EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 60749-19:2003); Немецкая версия EN 60749-19:2003 + исправление 2003-06.
