LST EN 60749-19+AC-2003/A1-2011
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 60749-19:2003/A1:2010)
Стартовая страница
LST EN 60749-19+AC-2003/A1-2011
Стандартный №
LST EN 60749-19+AC-2003/A1-2011
Дата публикации
2011
Разместил
Lithuanian Standards Office
© 2023. Все права защищены.