DANSK DS/EN 60749-19:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.

Стандартный №

DANSK DS/EN 60749-19:2003

Дата публикации

2003

Разместил

SCC

Последняя версия

DANSK DS/EN 60749-19:2003

DANSK DS/EN 60749-19:2003 История

• 2003 DANSK DS/EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.