LST EN 60749-19+AC-2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (IEC 60749-19:2002)

Стандартный №

LST EN 60749-19+AC-2003

Дата публикации

2003

Разместил

Lithuanian Standards Office