передача микроскопа

передача микроскопа, Всего: 45 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к передача микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Метрология и измерения в целом, Аналитическая химия, Образование, Испытание металлов, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Строительные материалы, Условия и процедуры испытаний в целом, Обработка поверхности и покрытие, Технические рисунки.

British Standards Institution (BSI), передача микроскопа

BS ISO 19012-3:2015 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Спектральное пропускание
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 19214:2024 Микролучевой анализ. Аналитический электронный микроскоп. Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
24/30474499 DC BS ISO 19214 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, передача микроскопа

GB/T 43846.3-2024 Микроскопия Номенклатура объективов микроскопа Часть 3: Спектральное пропускание
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 22058-2008 Микроскопы-Маркировка стереомикроскопов

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), передача микроскопа

JIS B 7158-3:2017 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопов. Часть 3. Спектральное пропускание.
JIS B 7144:1995 Микроскоп. Соединение конденсаторов проходящего света с муфтами для предметного столика.

International Organization for Standardization (ISO), передача микроскопа

ISO 19012-3:2015 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 3. Спектральное пропускание
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19214:2024 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, передача микроскопа

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Machinery, передача микроскопа

JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, передача микроскопа

JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Group Standards of the People's Republic of China, передача микроскопа

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/BSPT 6-2024 Технология частиц — Анализ субмикронной и нанометровой гетероструктуры — Просвечивающая электронная микроскопия
T/CSP 13-2024 Технология частиц — Анализ субмикронной и нанометровой гетероструктуры — Просвечивающая электронная микроскопия

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, передача микроскопа

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

GSO, передача микроскопа

OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 8578:2015 Микроскопы. Маркировка объективов и окуляров.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), передача микроскопа

KS B 5605-1987 Биологические микроскопы для погружных объективов
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 8544-2021 Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.

工业和信息化部, передача микроскопа

YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, передача микроскопа

DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

American Society for Testing and Materials (ASTM), передача микроскопа

ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом