GB/T 4937.3-2012
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 4937.3-2012
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2012
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 4937.3-2012
- сфера применения
- Целью этой части GB/T 4937 является проверка того, соответствуют ли материал, конструкция, конструкция, маркировка и качество изготовления полупроводниковых приборов требованиям применимых документов о закупках. Внешний визуальный осмотр — это неразрушающий тест, применимый ко всем типам упаковки. Этот тест используется для проверки квалификации, мониторинга процесса и приемки партии.
GB/T 4937.3-2012 Ссылочный документ
- GB/T 1.1-2009 Директивы по стандартизации. Часть 1: Структура и разработка стандартов.
- IEC 60749-3:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
GB/T 4937.3-2012 История
- 2012 GB/T 4937.3-2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
Специальные темы по стандартам и нормам
стандарты и спецификации
GB/T 7092-1993 Габаритные размеры полупроводниковых интегральных схем
GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов
GB/T 1804-2000 Общие допуски Допуски линейных и угловых размеров без индивидуальных указаний допусков
SJ/T 10745-1996 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых интегральных схем
GB/T 4937.1-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения
GB/T 4937.2-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2: Низкое давление воздуха
GJB 4027A-2006 Методы разрушающего физического анализа компонентов военной электроники
GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
GB/T 5169.5-2008 Испытание на пожароопасность электрических и электронных изделий. Часть 5. Испытательное пламя. Метод игольчатого испытания. Аппаратура, подтверждающее устройство и руководство.
GJB/Z 299C-2006 Справочник по прогнозированию надежности электронного оборудования
GJB 7400-2011 Общие технические условия на полупроводниковые интегральные схемы, сертифицированные квалифицированным производителем
GJB 546B-2011 Программа обеспечения качества электронных деталей
GB/T 4937.4-2012 Полупроводниковые приборы.Механические и климатические методы испытаний.Часть 4.Влажное тепло,стационарное,высокоускоренное стресс-тест (HAST).
GJB 900A-2012 Общие требования к программе безопасности материальной части
GJB 2835-1997 Характеристики корпуса микросхемы
GJB 4027B-2021 Метод разрушающего физического анализа компонентов военной электроники.
GB/T 7092-2021 Габаритные размеры полупроводниковых интегральных схем
GB/T 5169.5-2020 Испытание на пожароопасность электрических и электронных изделий. Часть 5. Испытательное пламя. Метод испытания игольчатым пламенем. Аппаратура, организация подтверждающих испытаний и руководство.
GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
GB/T 4937.3-2012 - Все части
GB/T 4937.1-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения
GB/T 4937.11-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
GB/T 4937.12-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты.
GB/T 4937.13-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 13. Соляная атмосфера.
GB/T 4937.14-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Надежность выводов (целостность выводов).
GB/T 4937.15-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 15. Устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через сквозное отверстие.
GB/T 4937.17-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение.
GB/T 4937.18-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (общая доза).
GB/T 4937.19-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг.
GB/T 4937.2-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2: Низкое давление воздуха
GB/T 4937.20-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20. Устойчивость SMD в пластиковой капсуле к совместному воздействию влаги и тепла пайки.
GB/T 4937.201-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке.
GB/T 4937.21-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость.
GB/T 4937.22-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность сцепления.
GB/T 4937.23-2023 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
GB/T 4937.26-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 26. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду (ESD) Модель человеческого тела (HBM)
GB/T 4937.27-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 27. Модель машины для испытания на чувствительность к электростатическому разряду (ESD) (MM)
GB/T 4937.3-2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
GB/T 4937.30-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств для поверхностного монтажа перед испытанием на надежность.
GB/T 4937.31-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне индуцированная)
GB/T 4937.32-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 32. Воспламеняемость приборов в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
GB/T 4937.34-2024 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания
GB/T 4937.35-2024 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическое микроскопическое исследование электронных компонентов в пластиковой капсуле
GB/T 4937.4-2012v Методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств. Часть 4. Высокоускоренное стационарное испытание на влажное тепло (HAST)
GB/T 4937.42-2023 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 42. Хранение при температуре и влажности.