GJB 548B-2005 (Англоязычная версия) Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств - Стандарты и спецификации PDF

GJB 548B-2005
Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств (Англоязычная версия)

Стандартный №
GJB 548B-2005
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2005
Разместил
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
состояние
 2022-03
быть заменен
GJB 548C-2021
Последняя версия
GJB 548C-2021
заменять
GJB 548A-1996
 

сфера применения
Настоящий стандарт определяет экологические, механические и электрические методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств военного назначения, а также необходимые меры контроля и ограничения для обеспечения качества и надежности микроэлектронных устройств, отвечающих требованиям использования по назначению. Настоящий стандарт распространяется на микроэлектронные устройства военного и космического назначения. Если производитель указывает или утверждает, что его полупроводниковая интегральная схема соответствует требованиям настоящего стандарта, она должна отвечать требованиям метода 5004, 5005 или 5010 (для сложных микросхем), а гибридные интегральные схемы должны отвечать требованиям GJB 2438 и настоящего стандарта. Общие требования и требования других указанных методов испытаний, а также спецификации продукции должны быть подтверждены органом по стандартизации.

GJB 548B-2005 Ссылочный документ

  • GB/T 1036  Метод испытания коэффициента линейного теплового расширения пластмасс в диапазоне от -30 ℃ до 30 ℃ с помощью дилатометра из кварцевого стекла.*2008-08-04 Обновление
  • GB/T 12842 Терминология пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем.
  • GB/T 3131 Оловянно-свинцовый припой*2020-09-29 Обновление
  • GB/T 9178 Терминология для интегральных схем
  • GB/T 9491 Флюс для пайки олова*2021-12-31 Обновление
  • GJB 1208 Требования к сертификации микросхем
  • GJB 1209 Методы испытаний и процедуры сертификации линеек микросхем
  • GJB 128 Спецификация аэрофотосъемки для военного топографического картографирования
  • GJB 2438 Общие спецификации гибридных интегральных схем
  • GJB 2712 Требования к обеспечению качества средств измерений Система метрологического подтверждения
  • GJB 597 Общая спецификация микросхемы
  • GJB 899 Лист изменений к квалификационным и приемочным испытаниям надежности 1-98

GJB 548B-2005 История

  • 2021 GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
  • 2005 GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
  • 1996 GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
  • 1988 GJB 548-1988 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств

GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств было изменено на GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств.

Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GB/T 4857.18-1992 Упаковка. Транспортные пакеты. Количественные данные для составления графика эксплуатационных испытаний. SJ/T 207.8-2001 Система управления проектной документацией Часть 8: Подготовка изобразительной формы QJ 548A-2004 Общие технические требования к изготовлению деталей и механической сборке электроники GB/T 11457-2006 Информационные технологии. Терминология программной инженерии. GJB 1621.7A-2006 Общие технические требования к средствам технической разведки. Часть 7. Требования экологической безопасности и методы испытаний. GJB 4027A-2006 Методы разрушающего физического анализа компонентов военной электроники IEC 60068-2-6:2007 Экологические испытания. Часть 2-6. Испытания. Испытание Fc: вибрация (синусоидальная) GB/T 15447-2008 Метод преобразования поглощенных доз в различных материалах, облученных рентгеновскими, γ-лучами и избирательными пучками GJB 150.3A-2009 Лабораторные методы экологических испытаний военной техники. Часть 3: Испытание при высоких температурах. GJB 360B-2009 Методы испытаний электронных и электрических компонентов GJB 7242-2011 Методы и процедуры испытаний на однократные эффекты GJB 597B-2012 Общие спецификации полупроводниковых интегральных схем GJB 467-1988 Требования к контролю качества процесса GJB 4599-1997*GJBz 20099-1992 Военная промышленность доработала документацию на продукцию и требования к предоставлению данных GJB 1269A-2021 обзор процесса GJB 762.1A-2018 Методы испытаний радиационной упрочнения полупроводниковых приборов Часть 1. Испытание нейтронным облучением GJB 1187A-2019 Рентгенографическое исследование GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств GJB 5235A-2021 Управление конфигурацией военного программного обеспечения



© 2025. Все права защищены.