GJB 548C-2021
Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств (Англоязычная версия)

Стандартный №

GJB 548C-2021

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2021

Разместил

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

Последняя версия

GJB 548C-2021

сфера применения

В настоящем стандарте определены климатические испытания на воздействие окружающей среды, механические испытания на воздействие окружающей среды, электрические испытания и процедуры проверки для микроэлектронных устройств военного назначения, а также меры контроля и ограничения, необходимые для обеспечения соответствия микроэлектронных устройств требованиям качества и надежности для их предполагаемого использования. Настоящий стандарт распространяется на микроэлектронные устройства военного назначения (далее именуемые «устройства»).

GJB 548C-2021 Ссылочный документ

• GB 18871  Основные стандарты защиты от ионизирующего излучения и безопасности источников излучения
• GB/T 12842 Терминология пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем.
• GB/T 3131 Оловянно-свинцовый припой
• GB/T 9178 Терминология для интегральных схем
• GB/T 9491 Флюс для пайки олова*， 2021-12-31 Обновление
• GJB 1208 Требования к сертификации микросхем
• GJB 1209 Методы испытаний и процедуры сертификации линеек микросхем
• GJB 128B-2021 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств
• GJB 2438 Общие спецификации гибридных интегральных схем
• GJB 2712 Требования к обеспечению качества средств измерений Система метрологического подтверждения
• GJB 3014 Статистическая система управления технологическими процессами электронных компонентов
• GJB 3495 Метод измерения энергетического спектра нейтронов импульсного реактора на быстрых нейтронах
• GJB 360B-2009 Методы испытаний электронных и электрических компонентов
• GJB 4027 Метод разрушающего физического анализа компонентов военной электроники.
• GJB 597B-2012 Общие спецификации полупроводниковых интегральных схем
• GJB 7242 Методы и процедуры испытаний на однократные эффекты
• GJB 7400-2011 Общие технические условия на полупроводниковые интегральные схемы, сертифицированные квалифицированным производителем
• GJB 7677 Метод испытания шариковой решетки (BGA)
• GJB 9389 Метод испытания блокировки интегральной схемы

GJB 548C-2021 История

• 2021 GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
• 2005 GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
• 1996 GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
• 1988 GJB 548-1988 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации