GJB 4027B-2021
Метод разрушающего физического анализа компонентов военной электроники. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GJB 4027B-2021
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2021
- Разместил
- Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
- Последняя версия
- GJB 4027B-2021
- сфера применения
- В настоящем приложении указаны подробные требования к анализу запрещенных материалов во внутренних и внешних упаковочных материалах при проведении анализа DPA на компонентах.
GJB 4027B-2021 История
- 2021 GJB 4027B-2021 Метод разрушающего физического анализа компонентов военной электроники.
- 2006 GJB 4027A-2006 Методы разрушающего физического анализа компонентов военной электроники
- 2000 GJB 4027-2000 Метод разрушающего физического анализа компонентов военной электроники.
Специальные темы по стандартам и нормам
стандарты и спецификации
GB/T 7092-1993 Габаритные размеры полупроводниковых интегральных схем
GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов
SJ/T 10745-1996 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых интегральных схем
GJB 571A-2005 Управление несоответствующей продукцией
GB/T 4937.1-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения
GB/T 4937.2-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2: Низкое давление воздуха
GJB 4027A-2006 Методы разрушающего физического анализа компонентов военной электроники
GJB 548B-2005 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
GB/T 5169.5-2008 Испытание на пожароопасность электрических и электронных изделий. Часть 5. Испытательное пламя. Метод игольчатого испытания. Аппаратура, подтверждающее устройство и руководство.
GJB/Z 299C-2006 Справочник по прогнозированию надежности электронного оборудования
GJB 546B-2011 Программа обеспечения качества электронных деталей
GJB 7243-2011 Технические требования к проверке военных электронных компонентов
GB/T 4937.3-2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
GB/T 4937.4-2012 Полупроводниковые приборы.Механические и климатические методы испытаний.Часть 4.Влажное тепло,стационарное,высокоускоренное стресс-тест (HAST).
GJB 900A-2012 Общие требования к программе безопасности материальной части
GB/T 7092-2021 Габаритные размеры полупроводниковых интегральных схем
GB/T 5169.5-2020 Испытание на пожароопасность электрических и электронных изделий. Часть 5. Испытательное пламя. Метод испытания игольчатым пламенем. Аппаратура, организация подтверждающих испытаний и руководство.
GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
T/CIE 148-2022 Характеристики электрических испытаний блока памяти с резистивным переключением