GB/T 4937.2-2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2: Низкое давление воздуха (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 4937.2-2006

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2006

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 4937.2-2006

заменять

GB/T 4937-1995

сфера применения

Этот раздел относится к испытаниям полупроводниковых приборов низким давлением. Целью этого испытания является определение способности компонентов и материалов избегать выхода из строя вследствие электрического пробоя из-за ослабления диэлектрической прочности воздуха и других изоляционных материалов при снижении давления. Этот тест применим только к устройствам с рабочим напряжением более 1000 В. Это испытание применимо ко всем герметично закрытым полупроводниковым приборам. Этот тест применим только к военной и космической сферах. Метод испытания при низком давлении воздуха в этом пункте в целом соответствует IEC60068-2-13, но ввиду особых требований к полупроводниковым устройствам используются термины этой части.

GB/T 4937.2-2006 История

• 2006 GB/T 4937.1-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения
• 1995 GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов

GB/T 4937.2-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2: Низкое давление воздуха было изменено на GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GB/T 4937.2-2006 - Все части