GB/T 4937-1995
Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 4937-1995
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1995
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2007-02
- быть заменен
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- Последняя версия
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- сфера применения
- В этом стандарте перечислены методы испытаний, применимые к полупроводниковым устройствам (дискретным и интегральным схемам). Вы можете выбирать из них, когда используете их. Для бесполостейных устройств могут потребоваться дополнительные методы испытаний. Примечание. Бесполое устройство — это устройство, в котором герметизирующий материал находится в тесном контакте со всеми открытыми поверхностями матрицы без каких-либо пустот в конструкции устройства. В этом стандарте максимально учтен стандарт IEC 68 «Основные процедуры испытаний на воздействие окружающей среды».
GB/T 4937-1995 История
- 2006 GB/T 4937.1-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения
- 1995 GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов
