GB/T 4937.1-2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения (Англоязычная версия)

Стандартный №: GB/T 4937.1-2006
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2006
Разместил: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия: GB/T 4937.1-2006
заменять: GB/T 4937-1995

сфера применения: Эта часть применяется к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам) и устанавливает общие рекомендации для других частей серии GB/T 4937. В случае противоречия между настоящей частью и соответствующей подробной спецификацией, подробная спецификация имеет преимущественную силу.

GB/T 4937.1-2006 Ссылочный документ

IEC 60050 Международный электротехнический словарь (IEV) – Указатель
IEC 60747 Полупроводниковые приборы. Часть 9. Дискретные устройства. Биполярные транзисторы с изолированным затвором (IGBT).*， 2019-11-13 Обновление
IEC 60748 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 5. Полузаказные интегральные схемы.

GB/T 4937.1-2006 История

2006 GB/T 4937.1-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения
1995 GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов

Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения

Специальные темы по стандартам и нормам

Ускоренное стационарное испытание на влажное тепло климатическое испытание Устройство в пластиковой упаковке

стандарты и спецификации

GB/T 4589.1-1989 Полупроводниковые устройства!*Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем. GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов IEC 60749-8:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация GB/T 4937.2-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2: Низкое давление воздуха GB/T 12750-2006 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 11. Технические характеристики полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем. GB/T 4937.19-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг. GB/T 4937.35-2024 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическое микроскопическое исследование электронных компонентов в пластиковой капсуле GB/T 4587-2023 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 7. Биполярные транзисторы.

GB/T 4937.1-2006 - Все части

GB/T 4937.1-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1: Общие сведения GB/T 4937.11-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны. GB/T 4937.12-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 12. Вибрация переменной частоты. GB/T 4937.13-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 13. Соляная атмосфера. GB/T 4937.14-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Надежность выводов (целостность выводов). GB/T 4937.15-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 15. Устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через сквозное отверстие. GB/T 4937.17-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение. GB/T 4937.18-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (общая доза). GB/T 4937.19-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг. GB/T 4937.2-2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2: Низкое давление воздуха GB/T 4937.20-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20. Устойчивость SMD в пластиковой капсуле к совместному воздействию влаги и тепла пайки. GB/T 4937.201-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. GB/T 4937.21-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость. GB/T 4937.22-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность сцепления. GB/T 4937.23-2023 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах. GB/T 4937.26-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 26. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду (ESD) Модель человеческого тела (HBM) GB/T 4937.27-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 27. Модель машины для испытания на чувствительность к электростатическому разряду (ESD) (MM) GB/T 4937.3-2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр. GB/T 4937.30-2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств для поверхностного монтажа перед испытанием на надежность. GB/T 4937.31-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне индуцированная) GB/T 4937.32-2023 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 32. Воспламеняемость приборов в пластиковых капсулах (внешнее наведение) GB/T 4937.34-2024 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания GB/T 4937.35-2024 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическое микроскопическое исследование электронных компонентов в пластиковой капсуле GB/T 4937.4-2012v Методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств. Часть 4. Высокоускоренное стационарное испытание на влажное тепло (HAST) GB/T 4937.42-2023 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 42. Хранение при температуре и влажности.

© 2025. Все права защищены.