GB/T 4589.1-1989
Полупроводниковые устройства!*Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем. (Англоязычная версия)

Стандартный №: GB/T 4589.1-1989
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 1989
Разместил: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
состояние: быть заменен 2007-02
быть заменен: GB/T 4589.1-2006
Последняя версия: GB/T 4589.1-2006

сфера применения: Настоящая спецификация применима к полупроводниковым интегральным схемам (далее — устройства), в которой указаны общие процедуры оценки качества устройств, а также даны общие принципы, которым необходимо следовать при проведении следующих испытаний и испытаний: Испытание электрических характеристик; Климатические и механические испытания; Тест на долговечность. Бланковая подробная спецификация является дополнением к настоящей спецификации. Для конкретного типа устройства его подробная спецификация и настоящая спецификация представляют собой полные требования к качеству устройства.

GB/T 4589.1-1989 История

2006 GB/T 4589.1-2006 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.
1989 GB/T 4589.1-1989 Полупроводниковые устройства!*Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.