GJB 7242-2011
Методы и процедуры испытаний на однократные эффекты (Англоязычная версия)

Стандартный №: GJB 7242-2011
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2011
Разместил: Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
Последняя версия: GJB 7242-2011

сфера применения: Этот стандарт определяет цель испытаний, требования и процедуры для однократного воздействия полупроводниковых приборов. Настоящий стандарт применим к однократным испытаниям на сбой и однократную блокировку устройств, вызванным облучением тяжелыми ионами.

GJB 7242-2011 История

2011 GJB 7242-2011 Методы и процедуры испытаний на однократные эффекты

Методы и процедуры испытаний на однократные эффекты

Специальные темы по стандартам и нормам

метод частиц ионный эффект радиационный эффект энергичные частицы радиационный эффект Количество частиц эффект одного события эффект частиц тест на одну частицу тестовый эффект Система частиц Система частиц

стандарты и спецификации

ASTM F1892-06 Стандартное руководство по испытанию воздействия ионизирующего излучения (общая доза) полупроводниковых приборов QJ 10004-2008 Метод радиационного испытания полупроводниковых приборов космического назначения в полной дозе QJ 10005-2008 Методические указания по испытаниям единичных эффектов, индуцированных тяжелыми ионами полупроводниковых приборов космического назначения GJB 762.1A-2018 Методы испытаний радиационной упрочнения полупроводниковых приборов Часть 1. Испытание нейтронным облучением GJB 548C-2021 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств

© 2025. Все права защищены.