BS IEC 62047-48:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытаний для определения концентрации раствора методом оптического поглощения с использованием жидкостного устройства МЭМС. - Стандарты и спецификации PDF

BS IEC 62047-48:2024
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытаний для определения концентрации раствора методом оптического поглощения с использованием жидкостного устройства МЭМС.

Стандартный №
BS IEC 62047-48:2024
Дата публикации
2024
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
BS IEC 62047-48:2024
 

сфера применения

Техническая база стандарта

BS IEC 62047-48:2024, ключевой стандарт в области микроэлектромеханических систем (МЭМС), впервые определяет метод измерения концентрации раствора методом оптического поглощения с использованием жидкостных МЭМС-устройств. Настоящий стандарт разработан подкомитетом 47F МЭК и обнародован Британским институтом стандартов (BSI) 30 июня 2024 года.


Основной принцип испытания

Стандарт устанавливает модель расчета концентрации на основе закона Бера-Ламберта: A = a·b·c, где:

  • Прозрачная крышка: Стеклянный материал толщиной 0,5–1 мм
  • Подложка микроканала: Микрообрабатываемые материалы, такие как кремний, с глубиной канала в сотни микрометров
  • Оптическая система выравнивания: Источник лазера и фотодетектор должны быть расположены перпендикулярно микроканалу

Требования к основным размерам

Конструкция микроканала должна соответствовать следующим требованиям:

  • Ширина > Диаметр пятна лазера (75% энергетической области гауссова распределения)
  • Длина ≥ 3 мм для обеспечения полностью развитого ламинарного потока
  • Общий размер устройства обычно находится в диапазоне сантиметров

Процесс проведения теста

  1. Калибровка системы: Используйте стандартный раствор известной концентрации для калибровки молярной поглощательной способности
  2. Стабилизация температуры: Температура поверхности устройства должна быть постоянной относительно целевого значения ±1 °C
  3. Статическое измерение: Испытайте раствор в статическом состоянии с помощью микроинъекционного насоса
  4. Проверка данных: Каждый образец необходимо измерить три раза, и взять среднее значение

Развитие технологий Анализ

По сравнению с традиционным кюветным тестированием этот стандарт предлагает значительные технологические достижения в следующих областях:

ПараметрФизическое значениеЕдиницаТребования к измерению
Поглощение (A)Степень поглощения раствора при определенной длине волны светаБезразмерная величинаОтношение интенсивности падающего и прошедшего света должно быть записано
Молярный коэффициент поглощения (a)Характерный параметр материалаМ-1см-1Требуется предварительная калибровка со стандартным раствором
Сравнительные размерыТрадиционные методыМетоды МЭМС
Расход образцаУровень миллилитраМикромодернизация
Объем системы обнаруженияНастольное оборудованиеИнтеграция на уровне чипа
Время откликаМинутыСекунды
Многопараметрический ОбнаружениеОднофункциональноеИнтегрируемые модули смешивания/реакции

Примеры применения

Медицинские диагностические системы: Устройство для оказания медицинской помощи (POCT) использует рекомендуемую стандартом многослойную связующую структуру, объединяющую предварительную обработку образца, биохимические реакции и оптическое обнаружение на чипе размером 20×20 мм, что позволяет достичь погрешности обнаружения концентрации глюкозы в крови <2%.

Мониторинг окружающей среды: Для тестирования на тяжелые металлы в воде УФ-отвержденный микрофлюидный канал контролирует длину оптического пути до 500±25 мкм. В сочетании со стандартизированным алгоритмом температурной компенсации это устройство достигает предела обнаружения 0,1 ppm для Cd2+.


Рекомендации по внедрению

  • Выбор материала: Для достижения баланса светопропускания и герметизации предпочтительнее использовать комбинацию PDMS-стекла.
  • Управление процессом: Обработка микроканала должна гарантировать, что вертикальность боковой стенки превышает 85°, чтобы избежать рассеивания света.
  • План валидации: Для валидации метода рекомендуется использовать стандартный эталонный материал NIST SRM 84b.
  • Контроль ошибок: Датчик температуры должен быть интегрирован в пределах 5 мм от канала потока.

BS IEC 62047-48:2024 История

  • 2024 BS IEC 62047-48:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытаний для определения концентрации раствора методом оптического поглощения с использованием жидкостного устройства МЭМС.
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытаний для определения концентрации раствора методом оптического поглощения с использованием жидкостного устройства МЭМС.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

IEC 62047-48:2024 Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические приборы - Часть 48: Метод испытания для определения концентрации раствора путем оптического поглощения DIN EN 62047-21 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных МЭМС-материалов DIN EN 62047-1 E:2014-05 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 1. Термины и определения DIN EN 62047-18 E:2011-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб BS IEC 62047-34:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний пьезорезистивного устройства MEMS, чувствительного к давлению на пластине DIN EN 62047-17 E:2011-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 17. Метод испытания на выпучивание для измерения механических свойств тонких пленок BS IEC 62047-29:2017 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания на электромеханическую релаксацию отдельно стоящих проводящих тонких пленок IEC 62047-4:2008 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 4. Общие спецификации для МЭМС BS EN 62047-4:2010 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Общая спецификация для MEMS



© 2025. Все права защищены.