DIN EN 62047-20 E:2012 Проект документа. Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы (IEC 47F/122/CD:2012). - Стандарты и спецификации PDF

DIN EN 62047-20 E:2012
Проект документа. Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы (IEC 47F/122/CD:2012).

Стандартный №
DIN EN 62047-20 E:2012
Дата публикации
2012
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
быть заменен
DIN EN 62047-20 E:2012-07
Последняя версия
DIN EN 62047-20:2015-04
 

Введение
Данная стандартизированная документация посвящена микромеханическим приборам на основе полупроводниковых устройств, в частности гироскопам. В составе серии стандартов под названием "Полупроводниковые устройства", данный документ является частью 20-й части и предназначен для описания конкретных требований к микромеханическим системам (MEMS) гироскопического типа. Он разработан немецкой организацией по стандартизации, которая действует под названием DE-DIN, и был опубликован в июле 2012 года.

DIN EN 62047-20 E:2012 История

  • 2015 DIN EN 62047-20:2015-04 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы (IEC 62047-20:2014)
  • 2015 DIN EN 62047-20:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы (IEC 62047-20:2014); Немецкая версия EN 62047-20:2014
  • 2012 DIN EN 62047-20 E:2012-07 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы.
  • 2012 DIN EN 62047-20 E:2012 Проект документа. Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы (IEC 47F/122/CD:2012).

стандарты и спецификации

DIN EN 62047-20 E:2012-07 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы DIN EN 62047-1 E:2014-05 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 1. Термины и определения DIN EN 62047-22 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких DIN EN 62047-21 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных МЭМС-материалов DIN EN 62047-28 E:2015-09 Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические приборы - Часть 28: Методы функциональных испытаний для устройств сбора энергии с электрическим приводом DIN EN 62047-18 E:2011-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 18. Методы испытаний тонкопленочных материалов на изгиб DIN EN 62047-16 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Кривизна пластины DIN EN 62047-17 E:2011-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 17. Метод испытания на выпучивание для измерения механических свойств тонких пленок DIN EN 62047-26 E:2014-05 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 26. Описание и методы измерения микротраншейных и игольчатых структур



© 2025. Все права защищены.