Как анализировать электронную оже-спектроскопию Стандартный

Как анализировать электронную оже-спектроскопию

Как анализировать электронную оже-спектроскопию, Всего: 85 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как анализировать электронную оже-спектроскопию, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Электронные компоненты в целом, Аналитическая химия, Неразрушающий контроль, Линейные и угловые измерения, Испытание металлов.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • GB/T 26533-2011 Общие правила электронного оже-спектроскопического анализа
  • GB/Z 32494-2016 Анализ поверхности. Химический анализ. Оже-электронная спектроскопия. Интерпретация химической информации.
  • GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • GB/T 25187-2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание некоторых параметров работы прибора.
  • GB/T 25187-2024 Выражение параметров производительности прибора для поверхностного химического анализа Оже-электронная спектроскопия
  • GB/T 29558-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • GB/T 29732-2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • GB/T 29731-2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
  • GB/T 29556-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

Professional Standard - Electron, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • SJ/T 10457-1993 Стандартное руководство для оже-электронной спектроскопии с определением профиля глубины

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • GB/T 36504-2018 Руководство по анализу загрязнения поверхности печатной платы — электронная оже-спектроскопия.
  • GB/T 29732-2021 Химический анализ поверхности. Оже-электронные спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • GB/T 35158-2017 Метод поверки электронных оже-спектрометров (АЭС)
  • GB/T 32565-2016 Химический анализ поверхности — запись и отчетность данных с помощью электронной оже-спектроскопии (AES).

British Standards Institution (BSI), Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • PD ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
  • BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • BS ISO 15471:2016 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
  • BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
  • BS ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
  • BS ISO 17973:2016 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
  • BS ISO 17974:2002(2010) Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
  • BS ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • BS PD ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
  • BS ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • 23/30469291 DC BS ISO 17973. Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа

American Society for Testing and Materials (ASTM), Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E1127-24 Стандартное руководство по профилированию глубины в оже-электронной спектроскопии

GSO, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • GSO ISO/TR 18394:2021 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
  • BH GSO ISO 18516:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • OS GSO ISO 18516:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • OS GSO ISO 17973:2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • GSO ISO 17973:2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • BH GSO ISO 17973:2016 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • GSO ISO 16242:2015 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
  • BH GSO ISO 16242:2017 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
  • BH GSO ISO 21270:2016 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • OS GSO ISO 21270:2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • OS GSO ISO 17974:2014 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
  • BH GSO ISO 17974:2016 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
  • BH GSO ISO 29081:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • OS GSO ISO 29081:2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.

International Organization for Standardization (ISO), Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • ISO/TR 18394:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
  • ISO/DIS 17973:2023 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • ISO/CD 17973 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
  • ISO 17973:2024 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • ISO/TR 18394:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации.
  • ISO 29081:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • ISO 15471:2004 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • ISO 15471:2016 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

SCC, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • BS PD ISO/TR 18394:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Получение химической информации
  • BS ISO 17973:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
  • BS ISO 15471:2004 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
  • BS PD ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • 10/30199172 DC BS ISO 16242. Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
  • 09/30184131 DC BS ISO 29081. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда

Association Francaise de Normalisation, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхностей – регистрация и отчетность данных оже-электронной спектроскопии (AES)
  • NF ISO 24236:2006 Химический анализ поверхностей. Электронная оже-спектроскопия. Повторяемость и постоянство энергетической шкалы.
  • NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
  • NF ISO 17973:2006 Химический анализ поверхности — электронные оже-спектрометры среднего разрешения — калибровка энергетических шкал для элементного анализа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • KS D ISO 15471-2020 Химический анализ поверхности-Электронная оже-спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
  • KS D ISO 17973-2021 Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры среднего разрешения-Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
  • KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры-Линейность шкалы интенсивности
  • KS D ISO 21270-2020 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры-Линейность шкалы интенсивности
  • KS D ISO 17973-2011(2016) Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры среднего разрешения-Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры-Линейность шкалы интенсивности
  • KS D ISO 15471-2005(2020) Химический анализ поверхности-Электронная оже-спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
  • KS D ISO 17973-2011(2021) Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры среднего разрешения-Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • KS D ISO 17974-2021 Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры высокого разрешения-Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
  • KS D ISO 15471:2005 Химический анализ поверхности-Электронная оже-спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
  • KS D ISO 17974-2011(2016) Химический анализ поверхности-Электронные оже-спектрометры высокого разрешения-Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
  • KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • KS D ISO 19319-2020 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.

Professional Standard - Machinery, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • JB/T 6976-1993 Метод идентификации элементов оже-электронной спектроскопии

German Institute for Standardization, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • DIN ISO 16242 E:2019-10 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
  • DIN ISO 16242:2020-05 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке

BSI, Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • BS ISO 17973:2024 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Как анализировать электронную оже-спектроскопию

  • JIS K 0161:2010 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.




©2007-2024 KPT-bj.net, Все права защищены.