SAE J1752/3_200301 Измерение излучаемых излучений от интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц) - Стандарты и спецификации PDF

SAE J1752/3_200301
Измерение излучаемых излучений от интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)

Стандартный №
SAE J1752/3_200301
Дата публикации
2003
Разместил
Society of Automotive Engineers (SAE)
состояние
быть заменен
SAE J1752/3-2011
Последняя версия
SAE J1752/3_201709
 

Введение
Данный стандарт описывает методы измерения излучения, исходящего от интегральных схем, с использованием температурных ячеек (TEM Cell) в диапазоне частот от 150 кГц до 1 ГГц и широкополосных температурных ячеек в диапазоне частот от 150 кГц до 8 ГГц. В документе подробно рассматриваются технические требования, используемые оборудование и процедуры проведения измерений. Также описываются условия, при которых должны выполняться измерения, и способы обработки полученных данных. Стандарт может быть применен для обеспечения соответствия продукции установленным нормам электромагнитной совместимости. Он направлен на стандартизацию процессов измерения и повышение точности получаемых результатов.

SAE J1752/3_200301 История

  • 0000 SAE J1752/3_201709
  • 2017 SAE J1752/3-2017 Измерение излучаемого излучения интегральных схем — метод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
  • 0000 SAE J1752/3_201106
  • 2011 SAE J1752/3-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
  • 0000 SAE J1752/3_200301
  • 2003 SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц)
  • 0000 SAE J1752/3_199503
  • 1995 SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 ГГц)

стандарты и спецификации

SAE J1752/3-2017 излучаемого излучения интегральных схемметод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц) SAE J1752-3-2011 Измерение излучаемого излучения интегральных схемметод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц) @ Широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц) SAE J1752/3_201106 излучаемых излучений от интегральных схемметод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц) SAE J1752/3_201709 Измерение излучаемых излучений от интегральных схемметод ячейки TEM/широкополосной TEM (GTEM); ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц) SAE J1752/3-2011 Измерение излучаемых излучений от интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM SAE J1752/3-2003 Измерение излучений интегральных микросхем TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; Ячейка TEM (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная ячейка TEM (от 150 кГц до 8 ГГц SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 GSO IEC 61967-2:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки



© 2025. Все права защищены.