ASTM F980M-96(2003)
Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированного смещения в кремниевых полупроводниковых устройствах [метрическая система]
- Стандартный №
- ASTM F980M-96(2003)
- Дата публикации
- 1996
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- состояние
- быть заменен
- ASTM F980-10
- Последняя версия
- ASTM F980-16
- сфера применения
- Электронные схемы, используемые во многих космических, военных и ядерных энергетических системах, могут подвергаться воздействию нейтронного излучения различных уровней и временных профилей. Для проектирования и изготовления таких схем крайне важно иметь методы испытаний, позволяющие определить уязвимость или стойкость (меру неуязвимости) компонентов, которые будут в них использоваться. Определение твердости часто необходимо как в краткосрочной перспективе (100 °С), так и в долгосрочной перспективе (необратимое повреждение) после воздействия. 1.1 В настоящем руководстве определяются требования и процедуры испытания кремния. дискретные полупроводниковые устройства и интегральные схемы для эффектов быстрого отжига в результате повреждения смещением, возникающего в результате нейтронного излучения. Это испытание приведет к ухудшению электрических свойств облученных устройств и его следует рассматривать как разрушающее испытание. Быстрый отжиг повреждений смещения обычно связан с биполярными технологиями. 1.2. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта обязан проконсультироваться и установить соответствующие правила техники безопасности и гигиены труда, а также определить применимость нормативных ограничений перед использованием.
ASTM F980M-96(2003) Ссылочный документ
- ASTM E666 Стандартная практика расчета поглощенной дозы гамма- или рентгеновского излучения*， 1997-11-10 Обновление
- ASTM E720 Стандартное руководство по выбору и использованию нейтронно-активационных фольг для определения нейтронных спектров, используемых при радиационно-стойких испытаниях электроники
- ASTM E721 Стандартное руководство по определению энергетических спектров нейтронов от нейтронных датчиков для испытаний электроники на радиационную стойкость
- ASTM E722 Стандартная практика характеристики спектров энергетического флюенса нейтронов в терминах эквивалентного флюенса моноэнергетических нейтронов для испытаний электроники на радиационную стойкость
- ASTM F1032
ASTM F980M-96(2003) История
- 2016 ASTM F980-16 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах
- 2010 ASTM F980-10e1 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах
- 2010 ASTM F980-10 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах
- 1996 ASTM F980M-96(2003) Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированного смещения в кремниевых полупроводниковых устройствах [метрическая система]
- 1996 ASTM F980M-96 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированного смещения в кремниевых полупроводниковых устройствах [метрическая система]
- 1992 ASTM F980-92 Руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах
