ASTM F980-16 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах - Стандарты и спецификации PDF

ASTM F980-16
Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах

Стандартный №
ASTM F980-16
Дата публикации
2016
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Последняя версия
ASTM F980-16
сфера применения
1.1 Настоящее руководство определяет требования и процедуры испытаний кремниевых дискретных полупроводниковых приборов и интегральных схем на эффекты быстрого отжига в результате смещения, вызванного нейтронным излучением. Это испытание приведет к ухудшению электрических свойств облученных устройств и его следует рассматривать как разрушающее испытание. Быстрый отжиг повреждений смещения обычно связан с биполярными технологиями. 1.1.1 Пучки тяжелых ионов также можно использовать для характеристики отжига с повреждением смещения (1)2, но ионные пучки имеют значительные сложности при интерпретации результирующего поведения устройства из-за соответствующей ионизирующей дозы. Использование импульсных ионных пучков в качестве источника смещения повреждений не входит в сферу применения настоящего стандарта. 1.2 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта обязан проконсультироваться и установить соответствующие правила техники безопасности и гигиены труда, а также определить применимость нормативных ограничений перед использованием.

ASTM F980-16 Ссылочный документ

  • ASTM E1854 Стандартная практика обеспечения согласованности испытаний при повреждении электронных деталей, вызванном нейтронами и смещением
  • ASTM E1855 Стандартный метод испытаний для использования кремниевых биполярных транзисторов 2N2222A в качестве датчиков нейтронного спектра и мониторов повреждений при смещении
  • ASTM E1894  Стандартное руководство по выбору дозиметрических систем для применения в импульсных источниках рентгеновского излучения
  • ASTM E264 Стандартный метод измерения скорости реакции быстрых нейтронов путем радиоактивной активации никеля
  • ASTM E265  Стандартный метод испытаний для измерения скоростей реакций и флюенсов быстрых нейтронов путем радиоактивной активации серы-32
  • ASTM E666  Стандартная практика расчета поглощенной дозы гамма- или рентгеновского излучения
  • ASTM E720 Стандартное руководство по выбору и использованию нейтронно-активационных фольг для определения нейтронных спектров, используемых при радиационно-стойких испытаниях электроники
  • ASTM E721  Стандартное руководство по определению энергетических спектров нейтронов от нейтронных датчиков для испытаний электроники на радиационную стойкость
  • ASTM E722  Стандартная практика характеристики спектров энергетического флюенса нейтронов в терминах эквивалентного флюенса моноэнергетических нейтронов для испытаний электроники на радиационную стойкость

ASTM F980-16 История

  • 2016 ASTM F980-16 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах
  • 2010 ASTM F980-10e1 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах
  • 2010 ASTM F980-10 Стандартное руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах
  • 1992 ASTM F980-92 Руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах



© 2023. Все права защищены.