Электронная микроскопия благородных металлов

Электронная микроскопия благородных металлов, Всего: 89 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронная микроскопия благородных металлов, являются: Финансы. Банковское дело. Денежные системы. Страхование, Оптика и оптические измерения, Оптическое оборудование, Обработка поверхности и покрытие, Линейные и угловые измерения, Строительные материалы, Изделия цветных металлов, Цветные металлы, Аналитическая химия, Испытание металлов, Словари, Ювелирные изделия, Метрология и измерения в целом, Качество воздуха.

Professional Standard - Finance, Электронная микроскопия благородных металлов

JRT 0267-2023 Сравнение изображений памятных монет из драгоценных металлов и сравнительная микроскопия

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Электронная микроскопия благородных металлов

GB/T 34831-2017 Нанотехнологии. Электронно-микроскопическое изображение наночастиц благородных металлов. Метод кольцевой визуализации в темном поле под большим углом.
GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронная микроскопия благородных металлов

GB/T 34831-2017(英文版) Нанотехнологии. Электронно-микроскопическое изображение наночастиц благородных металлов. Метод кольцевой визуализации в темном поле под большим углом.
GB/T 17472-2022 Технические условия на пасты из драгоценных металлов, применяемые в микроэлектронике
GB/T 17472-2008 Технические условия на пасты из драгоценных металлов, применяемые в микроэлектронике

GSO, Электронная микроскопия благородных металлов

GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
OS GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 15932:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
OS GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Электронная микроскопия благородных металлов

KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 8544-2021 Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D ISO 9220-2022 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь

Danish Standards Foundation, Электронная микроскопия благородных металлов

DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

British Standards Institution (BSI), Электронная микроскопия благородных металлов

BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
BS ISO 19214:2024 Микролучевой анализ. Аналитический электронный микроскоп. Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Association Francaise de Normalisation, Электронная микроскопия благородных металлов

NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь

International Organization for Standardization (ISO), Электронная микроскопия благородных металлов

ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

SE-SIS, Электронная микроскопия благородных металлов

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

German Institute for Standardization, Электронная микроскопия благородных металлов

DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.

European Committee for Standardization (CEN), Электронная микроскопия благородных металлов

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Spanish Association for Standardization (UNE), Электронная микроскопия благородных металлов

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Professional Standard - Machinery, Электронная микроскопия благородных металлов

JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 10077-1999 Металлургический микроскоп
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

American Society for Testing and Materials (ASTM), Электронная микроскопия благородных металлов

ASTM STP 262-1960 Семинар по электронной микроскопии металлургии
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Public Safety Standards, Электронная микроскопия благородных металлов

GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Электронная микроскопия благородных металлов

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

SCC, Электронная микроскопия благородных металлов

AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , Электронная микроскопия благородных металлов

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

IT-UNI, Электронная микроскопия благородных металлов

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

AT-ON, Электронная микроскопия благородных металлов

OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Professional Standard - Aviation, Электронная микроскопия благородных металлов

HB 5340-1989 Метод определения микротвердости по Виккерсу драгоценных металлов и их сплавов для авиации.

Standards Norway, Электронная микроскопия благородных металлов

NS-EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Group Standards of the People's Republic of China, Электронная микроскопия благородных металлов

T/SZS 4018-2020 Метод определения твердости ювелирных изделий из драгоценных металлов Метод определения твердости по Виккерсу
T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Электронная микроскопия благородных металлов

JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, Электронная микроскопия благородных металлов

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Электронная микроскопия благородных металлов

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронная микроскопия благородных металлов

CNS 2910-2008 Метод микроскопического контроля неметаллических включений в стали.

BE-NBN, Электронная микроскопия благородных металлов

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

RO-ASRO, Электронная микроскопия благородных металлов

STAS 5949-1980 ДИРЕКТОРАЦИЯ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ СТАЛЕЙ Метод микроскопии