GB/T 30855-2014
Подложки GaP для эпитаксиальных светодиодных чипов (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 30855-2014

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2014

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 30855-2014

сфера применения

Настоящий стандарт устанавливает требования, методы контроля, маркировку, упаковку, транспортировку, хранение, сертификат качества и форму заказа (или контракта) на монокристаллические подложки фосфида галлия (далее - подложки) для эпитаксиальных чипов светодиодов. Настоящий стандарт распространяется на монокристаллические подложки из фосфида галлия для эпитаксиальных чипов светодиодов.

GB/T 30855-2014 Ссылочный документ

• GB/T 13387 Метод испытаний для измерения плоских пластин кремния и других электронных материалов
• GB/T 13388 Способ измерения кристаллографической ориентации плоских поверхностей на пластинах и пластинах монокристаллического кремния рентгеновскими методами
• GB/T 14140 Метод испытаний для измерения диаметра полупроводниковой пластины
• GB/T 14264 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
• GB/T 14844 Обозначения полупроводниковых материалов*， 2018-12-28 Обновление
• GB/T 1555 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника*， 2023-08-06 Обновление
• GB/T 191  Упаковка.Изобразительная маркировка погрузочно-разгрузочных работ.
• GB/T 2828.1 Процедура проверки путем подсчета выборки, часть 1: План выборочного контроля по партиям, полученный по пределу приемочного качества (AQL)
• GB/T 4326 Измерение подвижности Холла и коэффициента Холла внешними полупроводниковыми монокристаллами
• GB/T 6616 Бесконтактный вихретоковый метод измерения удельного сопротивления полупроводниковых пластин и листов полупроводниковых пленок.*， 2023-08-06 Обновление
• GB/T 6618 Метод испытания толщины и изменения общей толщины пластинок кремния
• GB/T 6620 Метод испытаний для измерения коробления кремниевых пластинок бесконтактным сканированием
• GB/T 6621 Методы проверки плоскостности поверхности пластинок кремния
• GB/T 6624 Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля
• GJB 3076-1997 Спецификация одного чипа на основе фосфида галлия

GB/T 30855-2014 История

• 2014 GB/T 30855-2014 Подложки GaP для эпитаксиальных светодиодных чипов