GB/T 6624-2009 (Англоязычная версия) Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 6624-2009
Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 6624-2009
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2009
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 6624-2009
заменять
GB/T 6624-1995
 

сфера применения
Настоящий стандарт определяет метод визуального контроля качества поверхности монокристаллических полированных пластин при определенных условиях освещения. Настоящий стандарт распространяется на контроль качества поверхности полированных кремниевых пластин. К этому методу также можно отнести визуальный контроль качества поверхности эпитаксиальной пластины.

GB/T 6624-2009 Ссылочный документ

  • GB/T 14264 Терминология полупроводниковых материалов*2024-04-25 Обновление

GB/T 6624-2009 История

  • 2009 GB/T 6624-2009 Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля
  • 1995 GB/T 6624-1995 Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля
Стандартный метод измерения качества поверхности полированных пластинок кремния путем визуального контроля

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

GB/T 19922-2005 Стандартные методы испытаний для измерения плоскостности кремниевых пластин методом бесконтактного сканирования YS/T 679-2008 Методы определения диффузионной длины неосновных носителей заряда в внешних полупроводниках путем измерения стационарной поверхностной фотоэдс GB/T 6617-2009 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления кремниевой пластины с использованием датчика сопротивления растекания GB/T 14141-2009 Метод испытаний поверхностного сопротивления эпитаксиальных, диффузных и ионно-имплантированных слоев кремния с использованием коллинеарной четырехзондовой установки GB/T 29507-2013 Метод испытаний для измерения плоскостности, толщины и изменения общей толщины кремниевых пластин. Автоматическое бесконтактное сканирование. GB/T 14146-2021 Метод определения концентрации носителей заряда в эпитаксиальных слоях кремния — вольт-емкостный метод.



© 2025. Все права защищены.