KS C IEC 60749-2:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.

Стандартный №: KS C IEC 60749-2:2004
Дата публикации: 2004
Разместил: Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние: быть заменен
быть заменен: KS C IEC 60749-2:2020
Последняя версия: KS C IEC 60749-2:2020

сфера применения: Настоящий стандарт охватывает испытания полупроводниковых приборов при низком атмосферном давлении. Тест выполняется в режиме ожидания и удерживается во время декомпрессии.

KS C IEC 60749-2:2004 История

2020 KS C IEC 60749-2:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
2004 KS C IEC 60749-2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.

стандарты и спецификации

IEC 60749-2:2002/COR1:2003 приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. IEC 60749-2:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. GSO IEC 60749-2:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. DS/EN 60749-2/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. DS/EN 60749-2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. DIN EN 60749-2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха (IEC KS C IEC 60749-2-2020 приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. UNE-EN 60749-2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. KS C IEC 60749-2:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.

© 2025. Все права защищены.