DS/EN 60749-2/Corr.1:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.

Стандартный №

DS/EN 60749-2/Corr.1:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 60749-2/Corr.1:2004

сфера применения

Эта часть IEC 60749 охватывает испытания полупроводниковых приборов низким давлением воздуха. Испытание предназначено, прежде всего, для определения способности составных частей и материалов избегать пробоев по напряжению из-за снижения диэлектрической прочности воздуха и других изоляционных материалов при пониженном давлении. Это испытание применимо только к устройствам, рабочее напряжение которых превышает 1000 В.

DS/EN 60749-2/Corr.1:2004 История

• 2004 DS/EN 60749-2/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
• 2003 DS/EN 60749-2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.