Этот стандарт устанавливает методы испытаний для оценки устойчивости полупроводниковых器件 к механическим и климатическим воздействиям. В частности, он описывает процедуры тестирования в условиях низкого давления. Методы испытаний направлены на определение способности器件 выдерживать воздействие окружающей среды при определенных условиях. Стандарт включает требования к подготовке образцов, оборудованию и условиям проведения испытаний. Он также определяет критерии оценки результатов и допускаемые отклонения. Стандарт может быть использован в производственных и исследовательских целях для обеспечения качества и надежности полупроводниковых器件.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
KS C IEC 60749-2:2020 История
2020KS C IEC 60749-2:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
2004KS C IEC 60749-2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.