IEC 60749-2:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
- Стандартный №
- IEC 60749-2:2002/COR1:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60749-2:2002/COR1:2003
- сфера применения
- Это техническое исправление 1 к IEC 60749-2-2002 (Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха).
IEC 60749-2:2002/COR1:2003 История
- 2003 IEC 60749-2:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
- 2002 IEC 60749-2:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
стандарты и спецификации
IEC 60749-2:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
GSO IEC 60749-2:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
DS/EN 60749-2/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
DS/EN 60749-2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
KS C IEC 60749-2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
DIN EN 60749-2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха (IEC
KS C IEC 60749-2-2020 приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
UNE-EN 60749-2:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
KS C IEC 60749-2:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.