ASTM F616M-96(2003) Стандартный метод измерения тока утечки стока МОП-транзистора (метрический) - Стандарты и спецификации PDF

ASTM F616M-96(2003)
Стандартный метод измерения тока утечки стока МОП-транзистора (метрический)

Стандартный №
ASTM F616M-96(2003)
Дата публикации
1996
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние
 2009-12
Последняя версия
ASTM F616M-96(2003)
 

сфера применения
1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение тока утечки стока МОП-транзистора (примечание 1). Примечание 18212; МОП — это аббревиатура от «металл-оксид-полупроводник»; FET — это аббревиатура от «полевой транзистор».

1.2. Этот метод испытаний применим ко всем МОП-транзисторам в режиме улучшения и в режиме истощения. Этот метод испытаний определяет положительное напряжение и ток, правила, специально применимые к n-канальным МОП-транзисторам. Замена отрицательного напряжения и отрицательного тока делает этот метод непосредственно применимым к p-канальным МОП-транзисторам.

1.3 Этот метод испытаний постоянным током применим для диапазона напряжений стока выше 0 В, но меньше напряжения пробоя стока.

1.4 Настоящий стандарт не претендует на для решения всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM F616M-96(2003) Ссылочный документ

  • ASTM E178  Стандартная практика работы с отдаленными наблюдениями

ASTM F616M-96(2003) История

  • 1996 ASTM F616M-96(2003) Стандартный метод измерения тока утечки стока МОП-транзистора (метрический)
  • 1996 ASTM F616M-96 Стандартный метод измерения тока утечки стока МОП-транзистора (метрический)
Стандартный метод измерения тока утечки стока МОП-транзистора (метрический)

стандарты и спецификации

ASTM F616M-96 Стандартный метод измерения тока утечки стока МОП-транзистора (метрический) ASTM F618-79e1 Стандартный метод измерения порогового напряжения насыщения МОП-транзистора ASTM F617M-95 Измерение линейного порогового напряжения MOSFET [метрическая система ASTM F617-00 Стандартный метод испытаний для измерения линейного порогового напряжения MOSFET (отозван в 2006 г CNS 8106-1981 Метод измерения порогового напряжения насыщения MOSFET CNS 8104-1981 Метод измерения линейного порогового напряжения MOSFET ASTM F996-98 Стандартный метод испытаний для разделения сдвига порогового напряжения МОП-транзистора, индуцированного ионизирующим излучением, на компоненты ASTM F996-11(2018 Стандартный метод испытаний для разделения сдвига порогового напряжения МОП-транзистора, индуцированного ионизирующим излучением, на компоненты ASTM F996-98(2003 Стандартный метод испытаний для разделения сдвига порогового напряжения МОП-транзистора, индуцированного ионизирующим излучением, на компоненты



© 2025. Все права защищены.