Этот стандарт содержит рекомендации по измерению шероховатости поверхности с помощью электрических приборов для записи профиля. Стандарт содержит избранные части международных стандартов ISO 1880:1979 и ISO 3274:1975. При определении гладкости поверхности электрическими приборами регистрация профиля преобразуется в электрический сигнал. Сигнал должен пройти фильтр с функцией, соответствующей размещению эталонной длины на диаграмме профиля. Сигнал, модифицированный фильтром, затем оценивается с помощью интегрирующих схем, которые выполняют вычисления R%, Rz, Ry и т. д. аналогично определениям в SS-ISO 4287-1. В ISO 3274 такое поведение представлено так, как если бы профиль в инструментах существовал в исходной форме координат положения, а не в фактической форме амплитуды-времени. В настоящем стандарте выбрана та же процедура. Кроме того, на практике степени отклонений поверхности в вертикальном направлении (направление y) называются амплитудами, а в горизонтальном направлении (направление r) — длинами волн.
SIS SS 675-1989 История
1989SIS SS 675-1989 Шероховатость поверхности. Измерение шероховатости поверхности с помощью приборов для записи электрического профиля.