ONORM M 6773-2001 Текстура поверхности боковых поверхностей зубьев. Параметры шероховатости, определение параметров шероховатости с помощью щуповых инструментов, измерительных приборов и условий измерения.
В настоящей «НОРМЕ» содержатся спецификации предельных значений параметров шероховатости Ra и Rz, разделенных на 12 классов поверхности (классов шероховатости), чтобы облегчить оценку шероховатости поверхности зоны зацепления боковой поверхности зуба. Кроме того, приведены измерительные устройства электрических, механических зондирующих щуповых устройств для регистрации профиля поверхности боковых поверхностей зубьев, условия измерения и информация по измерению. ПРИМЕЧАНИЕ 1: Общие характеристики и информация об испытаниях поверхности, а также определения параметров, измерение параметров, схемы измерения и условия измерения приведены в соответствующих технических стандартах (см. Раздел 2). ПРИМЕЧАНИЕ 2: В настоящее время для параметров содержания материала в профиле шероховатости (кривая Эббота-Файерстона) не могут быть указаны предельные значения, поскольку еще нет достаточных надежных знаний об информативности этих параметров. ПРИМЕЧАНИЕ 3. В настоящее время невозможно указать предельные значения шероховатости для закругления основания зуба. Поверхность у основания зуба, являющаяся границей раздела напряжений, особенно чувствительна к микрогеометрическим насечкам. Это означает, что на желаемую усталостную прочность может влиять шероховатость основания зуба. Отдельные шероховатости большей глубины могут привести к необратимому разрушению. Поэтому указание значений Ra и ?z не является достаточно репрезентативным во всех случаях для оценки шероховатости основания зуба. После предварительного визуального осмотра целесообразно измерить наибольшую глубину шероховатости (надреза) на профиле шероховатости, которую фиксируют 7?мах.
ONORM M 6773-2001 История
2001ONORM M 6773-2001 Текстура поверхности боковых поверхностей зубьев. Параметры шероховатости, определение параметров шероховатости с помощью щуповых инструментов, измерительных приборов и условий измерения.