IEC 62047-35:2019
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 35. Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких электромеханических устройств.

Стандартный №

IEC 62047-35:2019

Дата публикации

2019

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62047-35:2019

сфера применения

Данная часть стандарта IEC 62047 определяет метод испытания электрических свойств гибких электромеханических устройств при изгибной деформации. Эти устройства включают пассивные и/или активные микроэлементы, расположенные на гибких пленках или встроенные в них. Требуемые плоские размеры устройства для этого метода испытания обычно находятся в диапазоне от 1 мм до 300 мм, а толщина — в диапазоне от 10 мкм до 1 мм, но эти значения не являются ограничивающими. Метод испытания разработан таким образом, чтобы монотонно изгибать устройство в квазистатическом режиме до достижения максимально возможной кривизны, т.е. до полного складывания устройства, что позволяет получить общее поведение ухудшения электрических характеристик при изгибной деформации. Этот документ имеет решающее значение для оценки запасов прочности при определенных изгибных деформациях и является незаменимым для надежного проектирования изделий, использующих эти устройства.

IEC 62047-35:2019 История

• 2019 IEC 62047-35:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 35. Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких электромеханических устройств.

стандарты и спецификации