BS IEC 62047-35:2019
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких электромеханических устройств.

Стандартный №

BS IEC 62047-35:2019

Дата публикации

2021

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS IEC 62047-35:2019

сфера применения

Что такое BS IEC 62047-35 — Испытание на изгибную деформацию MEMS? В условиях недавней тенденции к повсеместному распространению сенсорного общества и мира Интернета вещей спрос на более мягкие электронные устройства быстро растет. Для этого и нужны гибкие микроэлектромеханические устройства. При работе с такими устройствами надежность отдельных устройств имеет решающее значение. Устойчивость к изгибной деформации, особенно в случае гибких устройств, является важным вопросом, который разделяют все производители и пользователи таких устройств. BS IEC 62047-35 является частью серии стандартов IEC 62047 по микроэлектромеханическим устройствам. BS IEC 62047-35 определяет метод испытания электрических характеристик гибких электромеханических устройств при изгибной деформации. Эти устройства включают пассивные микрокомпоненты и/или активные микрокомпоненты на гибкой пленке или встроенные в гибкую пленку.

BS IEC 62047-35:2019 История

• 2021 BS IEC 62047-35:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких электромеханических устройств.