19/30364443 DC БС ЕН МЭК 62047-35. Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 35. Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких и складных электромеханических устройств - Стандарты и спецификации PDF

19/30364443 DC
БС ЕН МЭК 62047-35. Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 35. Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких и складных электромеханических устройств

Стандартный №
19/30364443 DC
Дата публикации
2019
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
19/30364443 DC
 

Введение
Данный стандарт регулирует методы испытаний электрических характеристик гибких и сгибаемых макроэлектромеханических устройств при деформации изгиба. Он охватывает различные аспекты, связанные с определением параметров, влияющих на работу устройств в условиях повторного изгиба. В документе описываются общие требования, используемые процедуры и условия проведения испытаний, а также способы анализа полученных данных. Стандарт предназначен для применения в научных исследованиях, разработке новых технологий и контроле качества продукции. Он может быть использован организациями, занимающимися разработкой, производством и тестированием электронных компонентов, включая гибкие и сгибаемые устройства. В тексте приводятся рекомендации по выбору оборудования, методам измерения и интерпретации результатов.

19/30364443 DC История

  • 0000 19/30364443 DC

стандарты и спецификации

BS IEC 62047-35:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких электромеханических IEC 62047-43:2024 Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические приборы - Часть 43: Метод испытания электрических характеристик после циклической изгибной деформации BS IEC 62047-43:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытания электрических характеристик после циклического изгибного деформирования гибких BS IEC 62047-34:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний пьезорезистивного устройства MEMS, чувствительного к давлению на пластине DIN EN 62047-22 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких BS IEC 62047-33:2019 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - МЭМС пьезорезистивные чувствительные к давлению устройства BS IEC 62951-5:2019 Полупроводниковые приборы. Гибкие и растяжимые полупроводниковые приборы. Метод испытания тепловых характеристик гибких материалов IEC 62047-44:2024 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 44. Методы испытаний динамических характеристик МЭМС-резонансных устройств, чувствительных IEC 62047-29:2017 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 29. Метод испытания на электромеханическую релаксацию отдельно стоящих проводящих тонких



© 2025. Все права защищены.