DIN EN 60749-28 E:2012-07
Методы механических и климатических испытаний полупроводниковых приборов. Часть 28: Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель устройства с прямым контактным зарядом (DC-CDM).

Стандартный №: DIN EN 60749-28 E:2012-07
Дата публикации: 2012
Разместил: German Institute for Standardization
состояние: быть заменен
быть заменен: DIN EN 60749-28:2018
Последняя версия: DIN EN 60749-28:2018-02

сфера применения: В данной части стандарта IEC 60749 описан метод испытаний на электростатический разряд (ЭСР) для оценки восприимчивости интегральных схем к электростатическому разряду с использованием модели заряженного устройства прямого контакта (DC-CDM). Этот метод испытаний может быть использован для воспроизведения и оценки воздействия разряда от заряженного металлического объекта на полупроводниковое устройство. Данный метод испытаний применим к корпусированным устройствам. Компоненты, поставляемые в виде пластин или кристаллов без покрытия, должны быть собраны в корпус, аналогичный корпусу в предполагаемом конечном приложении. Существует два типа методов испытаний на электростатический разряд (CDM): DC-CDM и метод полевого эффекта (F-CDM). В подробной спецификации должен быть указан используемый метод испытаний. Этот метод испытаний классифицируется как разрушающий.

DIN EN 60749-28 E:2012-07 Ссылочный документ

IEC 60749 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

DIN EN 60749-28 E:2012-07 История

2018 DIN EN 60749-28:2018-02 Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 28: Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD) - Модель заряженного устройства (CDM) - уровень устройства (IEC 60749-28:2017); Немецкая версия EN 60749-28:2017
2018 DIN EN 60749-28:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства (CDM) — уровень устройства (IEC 60749-28:2017); Немецкая версия EN 60749-28:2017
2012 DIN EN 60749-28 E:2012-07 Методы механических и климатических испытаний полупроводниковых приборов. Часть 28: Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель устройства с прямым контактным зарядом (DC-CDM).
2012 DIN EN 60749-28 E:2012 Проект документа. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства с прямым контактом (DC-CDM) (IEC 47/2123/CD:2012).

Методы механических и климатических испытаний полупроводниковых приборов. Часть 28: Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель устройства с прямым контактным зарядом (DC-CDM).

стандарты и спецификации