EN 60749-28:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства (CDM) — уровень устройства.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN 60749-28:2017
сфера применения
МЭК 60749-28:2017(E) устанавливает процедуру тестирования, оценки и классификации устройств и микросхем в соответствии с их восприимчивостью (чувствительностью) к повреждению или деградации в результате воздействия электростатического разряда определенной модели заряженного устройства (CDM) ( ОУР). Все корпусированные полупроводниковые устройства, тонкопленочные схемы, устройства на поверхностных акустических волнах (ПАВ), оптоэлектронные устройства, гибридные интегральные схемы (HIC) и многокристальные модули (MCM), содержащие любое из этих устройств, должны оцениваться в соответствии с этим документом. . Для проведения тестов устройства собираются в корпус, аналогичный ожидаемому в конечном приложении. Настоящий документ CDM не распространяется на тестеры моделей с раструбным разрядом. В этом документе описывается метод, индуцированный полем (FI). Альтернативный метод, метод прямого контакта (DC), описан в Приложении I. Целью данного документа является создание метода испытаний, который будет воспроизводить отказы CDM и обеспечивать надежные, повторяемые результаты испытаний CDM ESD от тестера к тестировщику, независимо от устройства. тип. Повторяемые данные позволят точно классифицировать и сравнивать уровни чувствительности CDM к ЭСР.
EN 60749-28:2017 История
2017EN 60749-28:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства (CDM) — уровень устройства.