DIN EN 60749-28 E:2012
Проект документа. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства с прямым контактом (DC-CDM) (IEC 47/2123/CD:2012).

Введение: Данный стандарт определяет методику для проведения механических и климатических испытаний полупроводниковых приборов, с акцентом на чувствительность к статическому электрическому разряду (ESD) модели прямого контакта с заряженным устройством (DC-CDM). В стандарте описаны процедуры и параметры для точного измерения воздействия статического электричества на полупроводниковые компоненты. Это позволяет обеспечить надежность и долговечность приборов в различных условиях эксплуатации.

*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.

DIN EN 60749-28 E:2012 История

2018 DIN EN 60749-28:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства (CDM) — уровень устройства (IEC 60749-28:2017); Немецкая версия EN 60749-28:2017
2012 DIN EN 60749-28 E:2012-07 Методы механических и климатических испытаний полупроводниковых приборов. Часть 28: Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель устройства с прямым контактным зарядом (DC-CDM).
2012 DIN EN 60749-28 E:2012 Проект документа. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства с прямым контактом (DC-CDM) (IEC 47/2123/CD:2012).