Настоящий стандарт устанавливает процедуру испытаний @ оценки @ и классификации устройств и микросхем в соответствии с их предрасположенностью (чувствительностью) к повреждению или деградации в результате воздействия электростатического разряда (ESD) определенной модели заряженного устройства (CDM). Все корпусированные полупроводниковые устройства @ тонкопленочные схемы @ устройства на поверхностных акустических волнах (ПАВ) @ оптоэлектронные устройства @ гибридные интегральные схемы (HIC) @ и многокристальные модули (MCM), содержащие любое из этих устройств, должны оцениваться в соответствии с настоящим стандартом. Для проведения испытаний устройства должны быть собраны в корпус, аналогичный ожидаемому в конечном приложении. Настоящий документ CDM не распространяется на тестеры моделей с раструбным разрядом. Этот метод испытаний сочетает в себе основные характеристики JEDEC JESD22-C101 и ANSI/ESD S5.3.1. Для облегчения этой комбинации были введены новые процедуры проверки и определения условий испытаний. Цель Целью (задачой) настоящего стандарта является создание метода испытаний, который будет воспроизводить отказы CDM и обеспечивать надежные повторяемые результаты испытаний CDM ESD от тестера к тестировщику независимо от типа устройства. Повторяемые данные позволят точно классифицировать и сравнивать уровни чувствительности CDM к ЭСР.