BS IEC 62047-27:2017
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Испытание прочности соединения стеклянных фриттовых конструкций с использованием микрошевронных испытаний (MCT)
- Стандартный №
- BS IEC 62047-27:2017
- Дата публикации
- 2020
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- Последняя версия
- BS IEC 62047-27:2017
- сфера применения
- Что такое BS IEC 62047-27 — Микрошевронные испытания (MCT) полупроводниковых приборов? BS IEC 62047 — это международный стандарт, в котором рассматриваются полупроводниковые устройства, включая микроэлектромеханические устройства. Основная цель серии стандартов IEC 62047 — предоставить предприятиям, занимающимся полупроводниковыми технологиями, лучшие отраслевые методы для демонстрации надежности и производительности своих устройств и компонентов. BS IEC 62047-27 определяет метод оценки прочности соединения структур, связанных стеклофриттой...
BS IEC 62047-27:2017 История
- 2020 BS IEC 62047-27:2017 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Испытание прочности соединения стеклянных фриттовых конструкций с использованием микрошевронных испытаний (MCT)
