Настоящий стандарт устанавливает общие требования к принципам метода, приборам и оборудованию, измерению углов, анализу дифракционной картины и калибровке ориентации с использованием рентгеновской фотографии Лауэ в обратном отражении для определения ориентации металлических кристаллов. Настоящий стандарт применим для определения кристаллической ориентации литых высокотемпературных сплавов на основе никеля, направленно затвердевших монокристаллических и столбчатых кристаллических пластин и образцов. Например, он подходит для монокристаллов серии DD и столбчатых кристаллов серии DZ, а также подходит для определения ориентации зерен диаметром более 1 мм. Определение ориентации кристаллов других металлов также можно использовать в качестве эталона.
HB 6742-1993 История
1993HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ