метод ориентации кристаллов Стандартный

метод ориентации кристаллов

метод ориентации кристаллов, Всего: 10 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к метод ориентации кристаллов, являются: Испытание металлов, Полупроводниковые материалы.


Professional Standard - Aviation, метод ориентации кристаллов

  • HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ

American Society for Testing and Materials (ASTM), метод ориентации кристаллов

  • ASTM E82-91(1996) Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла
  • ASTM E82-91(2007) Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла
  • ASTM E82/E82M-14 Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла
  • ASTM E82-09 Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла
  • ASTM E82/E82M-14(2019) Стандартный метод испытаний для определения ориентации металлического кристалла
  • ASTM F847-02 Рентгеновское измерение кристаллографической ориентации на монокристаллических кремниевых пластинах

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, метод ориентации кристаллов

  • GB/T 1555-1997 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
  • GB/T 1555-2023 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника
  • GB/T 1555-2009 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника

  Биполярные транзисторы. Методы измерения коэффициента шума низкой частоты, Метод определения ориентации и неориентации зерен электротехнической стали - рентгеноструктурный метод определения текстуры, метод кристаллической структуры, Метод уличного измерения выходной мощности кристаллических солнечных элементов и модулей, ориентация кристалла, кристаллический метод, Определение ориентации кристаллов в монокристаллических пластинках методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ, метод получения кристаллов, Метод кристаллического анализа, метод анализа ориентации, Метод рентгеновской кристаллографии, способ изготовления кристаллов, метод кристалла, Метод испытания начального светоиндуцированного ослабления солнечных элементов из кристаллического кремния, Методы характеристики кристаллов, метод ориентации кристаллов, Метод испытания вращательной ориентации кристаллических материалов с помощью рентгеновского дифрактометра, Метод рентгеновской дифракции кристаллов, Метод последовательных испытаний фотоэлектрических модулей на основе кристаллического кремния, Метод испытаний термически вызванного светоиндуцированного ослабления фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния.

 




©2007-2024 KPT-bj.net, Все права защищены.