Процедуры калибровки увеличительного стекла

Процедуры калибровки увеличительного стекла, Всего: 81 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Процедуры калибровки увеличительного стекла, являются: Оптическое оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Испытание металлов, Акустика и акустические измерения, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Процедуры калибровки увеличительного стекла

ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1255-23 Стандартная практика рентгеноскопии
ASTM E1951-14 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-02(2007) Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1951-14(2019) Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-01 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-02 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-98 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Процедуры калибровки увеличительного стекла

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Процедуры калибровки увеличительного стекла

JJG(航天) 7-1985 Правила поверки измерительных усилителей
JJG 338-1997 Регламент проверки усилителя заряда
JJG 338-2013 Усилители заряда
JJG(轻工) 104-1994 Правила проверки калибровочных утечек
JJG 176-1995 Регламент поверки звукового калибратора
JJG(电子) 02012-1995 Правила проверки усилителя мощности типа 2706
JJG 278-2002 Регламент поверки калибраторов осциллографов
JJG(电子) 02007-1989 Спецификация для проверки предусилителей модели 2627
JJG 866-2008 Регламент поверки стандартных линз вершинной силы
JJG 866-1994 Регламент поверки стандартных линз вершинной силы
JJG(航天) 49-1988 Правила поверки микроколлимирующих телескопов
JJG(电子) 12038-1991 Правила поверки встряхивающего калибратора MWS672
JJG(电子) 12028-1989 4143 Правила проверки взаимного калибратора
JJG(机械) 25-1990 Правила поверки усилителей измерения деформации нагрузки
JJG(电子) 02001-1988 Правила пробной проверки измерительного усилителя типа 2610
JJG(电子) 09008-1989 Правила поверки усилителя мощности СВЧ FW3
JJG(电子) 04024-1989 Спецификация для поверки калибраторов графических приборов модели BJ4801
JJG 1062-2010 Регламент поверки портативного виброкалибратора
JJG(航天) 2-1982 Правила проверки калибратора переменного тока 5200A/5215A (5205A)
JJG(电子) 04040-1991 Регламент поверки тестера операционных усилителей GH3181
JJG 533-2007 Калибратор стандартного аналогового количества деформации
JJG 967-2015 Правила проверки калибратора тестера автомобильных фар
JJG 488-2008 Регламент проверки тестера часов
JJG 488-1998 Регламент проверки тестера часов
JJG 967-2001 Регламент поверки калибраторов для тестера фар автотранспортных средств
JJG 410-1994 Регулирование проверки источника точной калибровки напряжения переменного тока
JJG(电子) 07004-1988 DO29 Правила пробной проверки калибровочного приемника
JJG 424-1986 Регламент проверки калибровочного набора затухания типа T07(T07A)
JJG 533-1988 Правила поверки эталонного калибратора величины аналога деформации
JJG 571-1988 Регламент поверки измерительного микроскопа
JJG(航天) 50-1988 Правила калибровки инструментальных микроскопов
JJG 579-2010 Регламент проверки линз в пробном футляре
JJG(教委) 13-1992 Правила поверки высокотемпературной микроскопии
JJG 579-1998 Регламент проверки линз в пробном футляре
JJG(航天) 23-1987 Правила проверки устройства калибровки уровня и затухания ME642A
JJG 77-1983 Регламент поверки интерференционного микроскопа
JJG(教委) 012-1996 Регламент поверки металлографического микроскопа
JJG 77-2006 Регламент поверки интерференционных микроскопов

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Процедуры калибровки увеличительного стекла

JJF 2123-2024 Спецификация калибровки для синхронных усилителей
JJF 1157-2006 Спецификация калибровки измерительных усилителей
JJF 1506-2015 Спецификация калибровки для усилителей согласования
JJF 1148-2006 Спецификация калибровки для устройств для тестирования контактных линз
JJF 1200-2008 Спецификация калибровки для усилителей мощности звуковой частоты
JJF 1912-2021 Спецификация калибровки для приборов для проверки мощности солнцезащитных очков
JJF 1725-2018 Спецификация калибровки для усилителей распределения импульсов
JJF 1677-2017 Спецификация калибровки для усилителей распределения частоты
JJF 1137-2005 Спецификация калибровки микрофонных предусилителей
JJF 1678-2017 Спецификация калибровки для усилителей мощности ВЧ и СВЧ

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Процедуры калибровки увеличительного стекла

GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Процедуры калибровки увеличительного стекла

GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Процедуры калибровки увеличительного стекла

KS D ISO 16700-2023 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения

IN-BIS, Процедуры калибровки увеличительного стекла

IS 5110-1969 Характеристики увеличительного стекла роговицы

International Organization for Standardization (ISO), Процедуры калибровки увеличительного стекла

ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

British Standards Institution (BSI), Процедуры калибровки увеличительного стекла

BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Процедуры калибровки увеличительного стекла

GJB/J 2741-1996 Процедуры калибровки зеркала для проверки размеров
GJB 8819-2015 Процедуры калибровки калибраторов диапазона индикаторов мощности
GJB 1317A-2006 Общие требования к составлению правил военной поверки и правил калибровки
GJB/J 3607-1999 Процедуры проверки системы крупных стандартов качества

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Процедуры калибровки увеличительного стекла

GJB/J 5414-2005 Регламент поверки рангового калибратора ваттметра

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Процедуры калибровки увеличительного стекла

JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

Association Francaise de Normalisation, Процедуры калибровки увеличительного стекла

NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

Professional Standard - Aerospace, Процедуры калибровки увеличительного стекла

QJ 2970-1997 Правила поверки призменного гониометра