атомно-силовой микроскоп AFM

атомно-силовой микроскоп AFM, Всего: 23 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к атомно-силовой микроскоп AFM, являются: Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Физика. Химия, Материалы для аэрокосмического строительства, Термодинамика и измерения температуры, Линейные и угловые измерения, Цветные металлы, Условия и процедуры испытаний в целом.

German Institute for Standardization, атомно-силовой микроскоп AFM

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

GSO, атомно-силовой микроскоп AFM

BH GSO ISO 13095:2017 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
GSO ISO 13095:2015 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, атомно-силовой микроскоп AFM

SPB-M6-2-2010 Апрель 08: Коллоидные взаимодействия между асфальтенами и различными поверхностями, измеренные с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ)
SPB-M6-3-2010 Апрель 08: Атомно-силовая микроскопия (основы техники)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, атомно-силовой микроскоп AFM

GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).

International Organization for Standardization (ISO), атомно-силовой микроскоп AFM

ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.

British Standards Institution (BSI), атомно-силовой микроскоп AFM

BS ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур
BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера

Group Standards of the People's Republic of China, атомно-силовой микроскоп AFM

T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки

American Society for Testing and Materials (ASTM), атомно-силовой микроскоп AFM

ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), атомно-силовой микроскоп AFM

KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2021 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы