IECQ 03-6-2018
Система оценки качества IEC для электронных компонентов (Система IECQ) – Правила производства – Часть 6: Схема IECQ ITL – Требования к программе оценки независимой испытательной лаборатории

Стандартный №: IECQ 03-6-2018
Дата публикации: 2018
Разместил: International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние: быть заменен
быть заменен: IECQ 03-6-2020
Последняя версия: IECQ 03-6-2020
заменять: IECQ 03-6:2012

сфера применения: Данная публикация содержит Правила процедуры системы IECQ, именуемые в дальнейшем «Правила», для схемы независимых испытательных лабораторий (схема IECQ ITL). Настоящие Правила процедуры системы независимых испытательных лабораторий IECQ содержат требования, специфичные для этой схемы, и должны использоваться вместе с применимыми Основными правилами управления системой IECQ (IEC CA 01, IECQ 01-S и IECQ 02), Общими правилами процедур (IECQ 03-1) и Эксплуатационной документации МЭК ЭК (ОД), как указано в нормативных ссылках пункта 2. В случае противоречия между положениями настоящих Правил процедуры и любыми другими требованиями, содержащимися в ссылочных нормативных документах, требования настоящих Правил процедуры должны быть соблюдены. применять.

IECQ 03-6-2018 Ссылочный документ

IEC CA 01:2017 Системы оценки соответствия МЭК – основные правила
IECQ OD 010 Критерии квалификации для оценщиков и ведущих оценщиков в соответствии с IECQ (сторонняя оценка) – общие для всех схем
ISO 14001:2015 Системы экологического менеджмента. Требования с руководством по использованию
ISO 9001:2015 Системы менеджмента качества. Требования
ISO/IEC 17000:2004 Оценка соответствия – Словарь и общие принципы
ISO/IEC 17025:2017 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий

IECQ 03-6-2018 История

2020 IECQ 03-6-2020 Система оценки качества МЭК для электронных компонентов (система IECQ)
2018 IECQ 03-6-2018 Система оценки качества IEC для электронных компонентов (Система IECQ) – Правила производства – Часть 6: Схема IECQ ITL – Требования к программе оценки независимой испытательной лаборатории
2012 IECQ 03-6-2012 Система оценки качества электронных компонентов IEC (Система IECQ) – Правила процедуры – Часть 6: Схема IECQ ITL – Требования к программе оценки независимой испытательной лаборатории

Специальные темы по стандартам и нормам

Система оценки тестовых заданий

стандарты и спецификации

QC 001002-4 AMD 2-2004 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ-CECC). Правила процедуры. Часть 4. Требования к программе оценки авионики, касающиеся плана наблюдения IECQ 03-4-2018 Система оценки качества МЭК для электронных компонентов (система IECQ DS/IEC 747-10:1992 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем QC 001002-1-1998 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ). Правила процедуры. Часть 1. Администрирование GSO IEC 60747-10:2014 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общие спецификации для дискретных устройств и интегральных схем QC 001002-4 AMD 1-2004 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ). Правила процедуры. Часть 4. Требования к программе оценки авионики BS EN 61007:1997 Трансформаторы и индукторы для использования в электронном и телекоммуникационном оборудовании. Методы измерения и процедуры испытаний GSO IEC 61007:2014 Трансформаторы и индукторы для использования в электронном и телекоммуникационном оборудовании. Методы измерения и процедуры испытаний DIN EN 61007:1998 Трансформаторы и индукторы для использования в электронном и телекоммуникационном оборудовании. Методы измерения и процедуры испытаний (IEC 61007:1994

IECQ 03-6-2018 - Все части