QC 001002-4 AMD 2-2004
Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ-CECC). Правила процедуры. Часть 4. Требования к программе оценки авионики, касающиеся плана наблюдения для поддержания утверждения (Англоязычная версия)

Стандартный №: QC 001002-4 AMD 2-2004
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2004
Разместил: International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние: снять со счета
быть заменен: QC 001002-4-2008
Последняя версия: QC 001002-4-2008

сфера применения: Настоящим стандартом является Система оценки качества электронных компонентов IEC (IECQ-CECC). Правила процедуры. Часть 4. Требования к программе оценки авионики, касающиеся плана наблюдения для поддержания утверждения; Поправка 1.

стандарты и спецификации

QC 001002-4 AMD 1-2004 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ). Правила процедуры. Часть 4. Требования к программе оценки авионики QC 001002-2 AMD 1-2004 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ-CECC) - Правила процедуры - Часть 2: Документация, касающаяся нового раздела 5, Правила QC 001002-2-1998 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ). Правила процедуры. Часть 2. Документация BS QC 001002-2:1997 Правила процедуры системы оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ) - Документация, включая новый пункт о правилах графиков утверждения технологий BS QC 001002-3:1997 Правила процедуры системы оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ) - Процедуры утверждения, включая новый пункт об одобрении технологии IECQ CS 033200-TW0007-2021 Чип-резисторы высокой мощности для измерения тока (серия RLP IECQ 03-4-2018 Система оценки качества МЭК для электронных компонентов (система IECQ QC 001002-1-1998 Система оценки качества электронных компонентов МЭК (IECQ). Правила процедуры. Часть 1. Администрирование BS CECC 00114-5:1993 Правило процедуры 14. Процедуры оценки качества. Утверждение процесса специализированных подрядчиков в отрасли электронных компонентов

© 2025. Все права защищены.