В этой части IEC 60191 приведены рекомендации по подготовке габаритных чертежей дискретных устройств, включая дискретные полупроводниковые устройства для поверхностного монтажа с количеством выводов менее 8. Для подготовки габаритных чертежей дискретных устройств для поверхностного монтажа с числом выводов выше или равным до 8, следует также ссылаться на IEC 60191-6. Основная цель этих чертежей — указать пространство, отведенное для устройств в оборудовании, а также другие размерные характеристики, необходимые для обеспечения механической взаимозаменяемости. Полная взаимозаменяемость предполагает и другие факторы, такие как электрические и тепловые характеристики соответствующих полупроводниковых устройств. Таким образом, международная стандартизация, представленная этими рисунками, побуждает производителей устройств соблюдать допуски, указанные на чертежах, чтобы расширить круг своих клиентов на международном уровне. Это также дает разработчикам оборудования гарантию механической взаимозаменяемости между устройствами, полученными от поставщиков в разных странах, при условии, что они предусматривают в своем оборудовании пространство, указанное на чертежах, и принимают во внимание более точную информацию о основаниях, шпильках и т. д. Дополнительная информация о ссылочных буквенных обозначениях, используемых в этом документе, приведена в Приложении А.
IEC 60191-1:2018 Ссылочный документ
IEC 60191-2:1966 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2: Размеры
IEC 60191-4:2013 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых устройств.
IEC 60191-6-1:2001 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6-1. Общие правила подготовки габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа; Руководство по проектированию выводных клемм типа «крыло чайки»
IEC 60191-6-20:2010 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6-20. Общие правила подготовки контурных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа. Методы измерения размеров корпусов с J-выводами малого контура (SOJ)
IEC 60191-6-21:2010 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6-21. Общие правила подготовки контурных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа. Методы измерения размеров корпусов малых контуров (SOP)
IEC 60191-6-3:2000 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6-3. Общие правила подготовки габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа; Методы измерения размеров четырехплоских упаковок (QFP)
IEC 60191-1:2018 История
2018IEC 60191-1:2018 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила составления габаритных чертежей дискретных приборов.
2007IEC 60191-1:2007 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила составления габаритных чертежей дискретных приборов.