IEC 60147-4:1976
Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 4: Приемлемость и надежность

Стандартный №

IEC 60147-4:1976

Дата публикации

1976

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета

Последняя версия

IEC 60147-4:1976

заменить на

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-6:1983 IEC 60747-1:1983

IEC 60147-4:1976 История

• 1976 IEC 60147-4:1976 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 4: Приемлемость и надежность

IEC 60147-4:1976 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 4: Приемлемость и надежность было изменено на IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды..

IEC 60147-4:1976 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 4: Приемлемость и надежность было изменено на IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры.

IEC 60147-4:1976 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 4: Приемлемость и надежность было изменено на IEC 60747-1:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 1: Общие сведения.