IEC 60747-6:1983
Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры

Стандартный №

IEC 60747-6:1983

Дата публикации

1983

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета

быть заменен

IEC 60747-6/AMD1:1991

Последняя версия

IEC 60747-6:2016

заменять

IEC 60147-1G:1975 IEC 60147-0:1966 IEC 60147-0B:1969 IEC 60147-0C:1973 IEC 60147-0F:1982 IEC 60147-1:1972 IEC 60147-1F:1973 IEC 60147-1H:1981 IEC 60147-1J:1981 IEC 60147-2:1963 IEC 60147-2B:1970 IEC 60147-2C:1970 IEC 60147-2F:1974 IEC 60147-2K:1978 IEC 60

IEC 60747-6:1983 История

• 2016 IEC 60747-6:2016 Полупроводниковые приборы. Часть 6: Тиристоры
• 2000 IEC 60747-6:2000 Полупроводниковые приборы. Часть 6: Тиристоры
• 1994 IEC 60747-6/AMD2:1994 Полупроводниковые приборы; дискретные устройства и интегральные схемы; часть 6: тиристоры; поправка 2
• 1991 IEC 60747-6/AMD1:1991 Полупроводниковые приборы; дискретные устройства и интегральные схемы; часть 6: тиристоры; поправка 1
• 1983 IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-1G:1975 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики..

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-0:1966 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 0: Общие сведения и терминология.

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-0B:1969 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 0: Общие сведения и терминология.

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-0C:1973 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 0: Общие сведения и терминология.

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-1:1972 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики.

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-1F:1973 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики..

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-1J:1981 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики..

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-2:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения..

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-2B:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-2C:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-2F:1974 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..

IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры было изменено на IEC 60147-2K:1978 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..