IEC 60147-1J:1981
Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики.

Стандартный №

IEC 60147-1J:1981

Дата публикации

1981

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета

Последняя версия

IEC 60147-1J:1981

заменить на

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-1J:1981 История

• 1972 IEC 60147-1:1972 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики

IEC 60147-1J:1981 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики. было изменено на IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды..

IEC 60147-1J:1981 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики. было изменено на IEC 60747-1:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 1: Общие сведения.

IEC 60147-1J:1981 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики. было изменено на IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры.