IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-1:1972 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики.
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-1F:1973 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-1J:1981 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-2:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-2B:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-2C:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-2F:1974 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-2K:1978 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-2M:1980 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2: Общие принципы методов измерения..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-3:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 3: Эталонные методы измерения.
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-3A:1973 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 3: Эталонные методы измерения..
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-4:1976 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 4: Приемлемость и надежность.
IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды. было изменено на IEC 60147-1G:1975 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 1: Основные номиналы и характеристики..
© 2023. Все права защищены.